有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：

①根據(jù)量子光學理論，波長是能量的倒數(shù)，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；

②根據(jù)儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現(xiàn)雜散光；

③根據(jù)儀器學理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應（靈敏度）低，容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是完全不同的，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時*容易產生雜散光。所以，對于紫外可見分光光度計來講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。

1、首先將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。
2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內，其讀數(shù)即為減光片的衰減值K，然后將減光片插入參比光路的濾光片座內。
3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液，插入試樣試樣池座中，在相應的波段內掃描、打印；在記錄紙的作標上量取測定波長處的透光度，乘以衰減值K，即得各測定波長處的雜散光值。